TES -45℃~250℃

Campo di controllo della temperatura: 45°C ~ 250°C ；Gamma di potenza: 2,5kW~25kW；Accuratezza del controllo della temperatura: ±0,3°C

Scatole di prova per alte e basse temperature specifiche per i chip Nella produzione di componenti elettronici a semiconduttore per ambienti difficili, le fasi di assemblaggio dell'imballaggio IC e di test di progettazione e produzione includono test termici elettronici a temperature (da -85 °C a +200 °C) e in altri ambienti. Test di simulazione. Una volta messi in uso pratico, questi dispositivi a semiconduttore e prodotti elettronici possono essere esposti a condizioni ambientali estreme per soddisfare gli esigenti standard di affidabilità militare e delle telecomunicazioni.

  LNEYA rappresenta la tecnologia avanzata di controllo della temperatura dei liquidi a livello internazionale, esplora e studia attivamente i sistemi di test dei componenti, utilizzati principalmente per la simulazione dei test di temperatura nei test dei semiconduttori, con un ampio orientamento della temperatura e un elevato aumento e diminuzione della temperatura, un intervallo di temperatura compreso tra -92°C e 250°C, adatto a vari requisiti di test. LNEYA è impegnata a risolvere il problema del ritardo nel controllo della temperatura dei componenti elettronici. La tecnologia di raffreddamento ad altissima temperatura può essere raffreddata direttamente da 300°C.